陈腾飞, 贺万宁
矿冶工程. 2001, 21(1): 43-45.
通过对添加Co 、Co +Zn、Co +Cd 及不含添加剂的氢氧化镍样品进行粉末微电极循环伏安测试, 研究了氢氧化镍的电位性能, 并对这些样品进行物理形态结构测试, 探索了添加剂对氢氧化镍物理形态结构及电位性能的影响。结果表明:在制备氢氧化镍时加入添加剂, 氢氧化镍的颗粒小, BET 比表面大, 组成颗粒微晶小, 微晶间孔隙丰富, XRD 图谱中(001)晶面和(101)晶面衍射峰的半高宽(FWHM)值和d001 值较大, 结合水含量增多, 这些结构上的变化有利于氢氧化镍充放电过程中质子扩散, 从而改善其电位性能;单纯添加Co 对改善氢氧化镍的充电电位性能效果较好, 而同时加Co 、Zn 或Co 、Cd 可显著改善氢氧化镍的充放电电位性能。